Рентгенографические, электронно-микроскопические и спектроскопические исследования полупроводников системы ZnTe–CdSe
Дата публикации: 2014
Просмотров: 176

Вид документа: Статья из журнала

Библиографическая ссылка
Рентгенографические, электронно-микроскопические и спектроскопические исследования полупроводников системы ZnTe–CdSe / И. А. Кировская [и др.] // Омский научный вестник. Сер. Приборы, машины и технологии. - 2014. - № 1(127). - С. 38-43.