Рентгенографические, электронно-микроскопические и спектроскопические исследования полупроводников системы ZnTe–CdSe
Рентгенографические, электронно-микроскопические и спектроскопические исследования полупроводников системы ZnTe–CdSe
Авторы: Васина М. В. , Еремин Е. Н. , Кировская И. А. , Корнеев С. А. , Матяш Юрий Иванович , Шалаева М. Е. , Юрьева А. В.
Дата публикации: 2014
Просмотров: 294
Вид документа: Статья из журнала
Библиографическая ссылка
Рентгенографические, электронно-микроскопические и спектроскопические исследования полупроводников системы ZnTe–CdSe / И. А. Кировская [и др.] // Омский научный вестник. Сер. Приборы, машины и технологии. - 2014. - № 1(127). - С. 38-43.