Сравнительный анализ надежности цифровых моделей полупроводниковых диодов и транзисторов
Сравнительный анализ надежности цифровых моделей полупроводниковых диодов и транзисторов
Авторы: Куровский М. В. , Медведев Игорь Львович
Дата публикации: 1977
Просмотров: 132
Тип документа: Текстовые материалы (кроме рукописных)
Характеристика документа: Сборник научных трудов
Вид документа: Статья из сборника (однотомник)
Издательство: ОмИИТ
Город издательства: Омск
Библиографическая ссылка
Куровский, М. В. Сравнительный анализ надежности цифровых моделей полупроводниковых диодов и транзисторов / М. В. Куровский, И. Л. Медведев // Исследование элементов и надежности устройств железнодорожной автоматики : научные труды / Омский институт инженеров железнодорожного транспорта. - Омск : ОмИИТ, 1977. - С. 107-111.